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DE-CAPPING 这种方法被称为“chip de-capping，这种方法要求用酸或激光钻孔来拆除iPhone的处理器芯片的外壳。在理论上，研究人员可以用探针一个字节一个字节地读出芯片上的信息，然后把这些数据用电脑进行分析。这种方法等于把信息“克隆”到了电脑上。一旦他们获得这些信息，研究人员可以将其加载到另一台计算机上，这样他们就可以猜测密码而不必担心触发自动擦除功能。
目前有专家已经成功使用类似的程序读取其他种类的计算机芯片的数据，不过物理拆解芯片的工艺技术要求很高、具有很高的风险，一旦失败，就会造成不可挽回的数据丢失。 全新的“零日漏洞“ 零日漏洞是指被发现后立即被恶意利用的安全漏洞。通俗地讲，即安全补丁与瑕疵曝光的同一日内，相关的恶意程序就出现。这种攻击往往具有很大的突发性与破坏性。即使是微小的瑕疵漏洞都可以给黑客带来机会。
对于经常出售这些漏洞的黑客来说，这些漏洞资料十分珍贵，情报机构可以利用他们的数据采集。通过利用这些漏洞，FBI可以找到一些方法来破解iPhone。 尽管FBI还可以通过一些暴力手段来尝试破解iPhone，但是零日漏洞会是FBI一个很好的神秘助手。 上面介绍的这些方法都十分复杂，但是对于想要真正破解iPhone的FBI来说，这些方法都具有一定的可行性。[返回频道首页]
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2016-04-17 00:15
出处：PConline原创
责任编辑：huanglei1
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